Boletín Enero-Abril 2010







En este número:
 


PARTICIPA EL CENAM CON EL BIPM EN EL GRUPO DE TRABAJO DE METROLOGÍA EN NANOTECNOLOGÍAS
 
BIPM Workshop on Metrology at the Nanoscale (febrero 18-19), 2010 BIPM, Sèvres, Francia.
La inauguración del evento fue presidida por el Dr Alan Steele, NRC-INMS, el Prof. Andrew Wallard, director del BIPM, y el Prof. Dr Michael Kühne, subdirector del BIPM. Durante la inauguración se discutieron temas de interés de la nanotecnología como son las expectativas, trazabilidad y materiales de referencia.

Las sesiones plenarias 
     bipn
Foto: BIPM
Representantes de diversos institutos de metrología a nivel internacional, estuvieron presentes en el evento: La metrología en las nanotecnologías, organizado por el BIPM.
del evento fueron orientadas a Métodos y Tecnologías para Pruebas de Toxicología de Materiales en Nanoescala, Aerosoles, Microscopia, Análisis de Superficie, Nanobiotecnología, Electricidad y Magnetismo, Metrología Mecánica y, finalmente, Películas delgadas y recubrimientos, El desarrollo de la inauguración y las sesiones estuvieron a cargo de figuras reconocidas de instituciones abiertas al desarrollo de la nanotecnología como BIPM, OECD, ISO TC 229, NRC-INMS (Canadá), AIST (Japón), IRMM (Bélgica), IRSN (Francia), JEOL (Japón), Bayer (Alemania), NPL (Inglaterra), LNE (Francia), NMIA (Australia), BAM (Alemania), UCD (Irlanda), INTEL (Irlanda), NIST (Estados Unidos) e IBM T.J. Watson Research Center (Estados Unidos). Durante este evento se abordaron varias de las aplicaciones de nanotecnología en campos tan diversos como la medicina, el medio ambiente, la biotecnología, las comunicaciones, el desarrollo de materiales, la alimentación y por supuesto sus implicaciones en metrología. Durante la clausura del evento, a cargo del Dr. Alan Steele, se dio un resumen de hallazgos y recomendaciones.  

Como en otros campos del quehacer científico y económico, la nanotecnología requiere de un amplio consenso y colaboración a nivel internacional que facilite el desarrollo y el intercambio, pero que al mismo tiempo se eviten posibles consecuencias indeseables de tales aplicaciones.

Así pues, durante el evento se plantearon y discutieron los aspectos relevantes de la nanotecnología y su relación con la metrología. Estuvieron presentes especialistas que trabajan actualmente en el desarrollo de nanotecnología en diferentes campos; también participaron miembros reconocidos de los institutos de metrología de varios países.

Este encuentro favorece el avance en los elementos fundamentales y prácticos de la nanotecnología, para la toma de decisiones y la definición de estrategias en el CENAM, además de facilitar la participación en los proyectos para la elaboración de metodologías de referencia y normas internacionales que son de interés para el desarrollo científico y económico de México.
   
Más información:
Dr. Juan Antonio Guardado Pérez
Coordinador Científico del Área de Metrología de Materiales
División Mediciones Electromagnéticas
jguadad@cenam.mx
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SE DESARROLLÓ EN EL CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA EL CURSO ESTIMACIÓN DE INCERTIDUMBRE DE MEDICIÓN USANDO EL MÉTODO DE SIMULACIÓN POR MONTE CARLO
 
Durante los días 26-29 de enero de 2010 se llevó a cabo en el Centro Nacional de Metrología el curso Estimación de incertidumbre de medición usando el método de simulación por Monte Carlo.
El curso fue impartido por el Dr. Wolfgang Schmid, ex colaborador del Centro Nacional de Metrología y el M. en C. Roberto Arias, Coordinador Científico de la División de Flujo y Volumen del CENAM; dirigido a los participantes provenientes de seis países miembros de la Organización Metrológica de Centro América (CAMET) que asistieron a este evento de capacitación promocionado y patrocinado conjuntamente por el Sistema Interamericano de Metrología (SIM) y el Physikalisch Technische  Bundesanstalt (PTB).    foto
Participantes provenientes de países miembros de la Organización Metrológica de Centro América.
Las naciones representadas en este curso fueron: Guatemala, Honduras, El Salvador, Nicaragua, Costa Rica y Panamá. 

Los asistentes tuvieron la oportunidad de adquirir conocimientos e intercambiar experiencias en materia de evaluación de incertidumbre de las mediciones, en acuerdo con las recomendaciones establecidas en los documentos técnicos JCGM 100:2008 y JCGM 101:2008, relacionados con la “Evaluación de datos de medición” emitidos por el Comité Conjunto de Guías en Metrología del BIPM. Dichas experiencias y conocimientos permitirán a los asistentes, y a sus compañeros de institución, realizar la validación de los cálculos de incertidumbre relativos a sus problemas de medición, y resolver aquéllos para los cuales las recomendaciones establecidas en la GUM no sean adecuadas.

 
Más información:
M. en C. Roberto Arias Romero
Coordinador Científico de la División de Flujo y Volumen
rarias@cenam.mx
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ESTABLECIMIENTO DEL PATRÓN NACIONAL DE GRANDES PARES TORSIONALES  
En este año se terminó la construcción y se realizaron las pruebas operativas para poner en funcionamiento un nuevo patrón de referencia de par torsional.  
 
Este patrón nacional de par torsional tiene un alcance de medición de hasta 20 kN•m, diez veces mayor que el patrón nacional de par torsional actualmente en operación. Es el primero que utiliza una carcasa cilíndrica como elemento de transferencia y de delimitación de área de trabajo a nivel mundial, ya que pocos existentes en este alcance de medición utilizan columnas. Este patrón es el de mayor alcance de medición en el continente americano.       patron
Foto CENAM Patrón de par torsional, tiene un alcance de medición de hasta 20 kN•m. Es el de mayor alcance de medición en el continente americano
En este patrón se realizan las mediciones y/o calibraciones por comparación directa, esto es, el instrumento a calibrar se compara directamente contra un transductor de par torsional patrón.  

El patrón consiste de un moto-reductor (que aplica el par), elementos de conexión (incluido un cojinete neumático), un transductor patrón, un cilindro de contra reacción (móvil para adaptarse a diferentes instrumentos a calibrar) y una estructura metálica en forma de cilindro de 2 m de diámetro, que sirve de pared limitante del área de trabajo y de soporte para resistir el par torsional aplicado. Las industrias que se verán beneficiadas con servicios en este patrón son la naviera, construcción, petrolera y de generación de energía eléctrica entre otras. Además de los laboratorios secundarios de calibración que podrán realizar la calibración de sus instrumentos patrón en México evitando exportación temporal y demora por realizar sus calibraciones en el extranjero.
Más información:
Dr. Jorge Torres Guzmán
Jefe de la División de Fuerza y Presión
jtorres@cenam.mx
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Última actualización el Jueves, 29 de Abril de 2010 12h48