Boletín Septiembre 2010







En este número:
 
   


“La metrología, la productividad y el desarrollo económico” slogan que caracteriza al Simposio de Metrología 2010.
 
Este importante evento se llevará a cabo del 27 al 29 de octubre, con sede en las instalaciones del Hotel Misión Querétaro Juriquilla. Su objetivo es reunir a reconocidos especialistas nacionales e internacionales para compartir sus experiencias y logros en los diferentes campos de la metrología.
El Centro Nacional de Metrología (CENAM) organiza el Simposio de Metrología en 2010 como un medio para intercambiar conocimientos y compartir experiencias.

Enmarcado por la celebración del 200 aniversario del inicio de la Gesta de Independencia en México y en varios países latinoamericanos así como del 100 aniversario del inicio de la Revolución Mexicana, el Simposio de Metrología es el escenario ideal para la convivencia de la comunidad metrológica nacional y mundial, de empresarios, investigadores y de estudiantes para cumplir con éxito el objetivo de esta edición: La metrología, la productividad y el desarrollo económico.

Durante los días 27, 28 y 29 de octubre, representantes de los laboratorios públicos y privados de calibración y pruebas, la industria, centros de investigación y desarrollo, instituciones académicas,  institutos
   logo simposio
Foto: CENAM
Logotipo y slogan del Simposio de Metrología en su versión 2010.
nacionales de metrología de otros países, discutirán y compartirán sus avances y soluciones al constante reto de medir bien, como soporte importante para la innovación tecnológica y para asegurar la calidad de los productos y servicios.

El Simposio de Metrología, se ha convertido en un foro donde expertos de renombre internacional, comparten con la comunicad metrológica nacional sus experiencias, los retos a enfrentar para satisfacer las necesidades de la sociedad que cada vez demanda mayores apoyos al adquirir productos o servicios. Medir bien es sin duda, una tarea crucial para asegurar la calidad de la producción industrial, los servicios de salud, las telecomunicaciones, los servicios públicos, la preservación y cuidado del ambiente, el desarrollo tecnológico, la innovación. En suma, medir bien para vivir mejor.

La exposición industrial especializada en instrumentos de medición, equipo analítico y productos o servicios relacionados, permitirá conocer la tecnología más reciente en este ámbito, contar con la asesoría de sus representantes y contactar a proveedores de servicios de calibración y pruebas. Los atractivos principales que amplían el valor de esta versión del Simposio 2010 serán las sesiones plenarias de discusión sobre temas actuales, las sesiones de carteles para estar en contacto directo con especialistas y colegas de los diferentes campos de la metrología, y los cursos cortos previos al Simposio, los días 25 y 26 de octubre, sobre temas de interés para la comunidad metrológica, además de las reuniones especializadas.
 
   
Más información:
www.cenam.mx/simposio2010
M. en C. Carlos H. Matamoros García
Coordinador del Simposio
cmatamor@cenam.mx
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Calibración de luxómetros y su uso en la medición de niveles de iluminación: Publicación técnica CNM-MFO-PT-004, reseña de su contenido
 
El CENAM motiva el uso efectivo del conocimiento de la medición de la iluminación mediante la introducción de esta publicación técnica, que ayudará a difundir de forma sencilla, pero completa, los aspectos metrológicos importantes a quienes verifican los niveles de iluminación en áreas de trabajo, para que apliquen adecuadamente la información que obtienen de la calibración de sus luxómetros.
La División de Óptica y Radiometría del Centro Nacional de Metrología (CENAM) tiene a su cargo la realización de una de las siete unidades de base del Sistema Internacional de Unidades (SI): la candela, que a través del mantenimiento del Patrón Nacional de Intensidad Luminosa, ofrece una ruta de trazabilidad hacia las unidades del SI a las mediciones fotométricas que se realizan en nuestro país; en particular a las mediciones de iluminancia requeridas en la calibración de medidores de iluminancia, comúnmente conocidos como luxómetros.

El instrumento de medición luxómetro permite medir simple y rápidamente la iluminancia real y no la subjetiva de un ambiente. Puede tener varias escalas para adaptarse a las luminosidades débiles o las fuertes.

En seguimiento a la visión y política de calidad institucionales del CENAM de brindar soporte metrológico a la industria nacional y para que ésta pueda alcanzar los niveles de productividad, competitividad y calidad deseados en los productos y servicios, la presente publicación técnica ha sido elaborada y dirigida a todas las entidades, públicas o privadas que utilizan los medidores de iluminancia o luxómetros.
   logo boletin
Foto: Jesús Manuel Tapia V.
Portada de la publicación del CENAM “Calibración de luxómetros y su uso en la medición de niveles de iluminación”.

Se ejemplifica la forma adecuada en que debe usarse la información obtenida en la calibración, cuando se utiliza el luxómetro para verificar el nivel de iluminación en un plano de trabajo; destacando la forma en que la incertidumbre estimada para el factor de corrección se propaga hacia aquélla para el nivel de iluminación encontrado.

La publicación describe el principio físico y el método de medición que se utilizan en la calibración de un luxómetro, mismos que se traducen en los modelos matemáticos que se usan para determinar el error de medición y el factor de corrección. Se describen los arreglos experimentales que habitualmente se requieren para realizar estas mediciones y se resaltan los aspectos que deben cuidarse para lograr buenas calibraciones, mencionando las características clave que deben reunir los bancos fotométricos, las lámparas patrón, la instrumentación electrónica de soporte; así como las condiciones ambientales que deben mantenerse en laboratorio.

Se muestra a detalle la estimación de la incertidumbre para el error de medición del luxómetro y para el factor de corrección correspondiente a una de sus escalas; destacando todos los aspectos importantes que definen esta metodología estándar que actualmente se aplica internacionalmente.

Todos los modelos de medición discutidos son aplicados a datos reales obtenidos durante la calibración de un luxómetro realizada en el Laboratorio de Fotometría del CENAM, para obtener los valores de los mensurados involucrados y sus incertidumbres.

Esta publicación ya está disponible para su venta en el Departamento de Información y Documentación del CENAM a través de la liga: https://www.cenam.mx/publicaciones/tecnicas/Default.aspx
 
 
   
Más información:
Eric Rosas
División de Óptica y Radiometría
erosas@cenam.mx
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VISITA EN EL CENAM DEL EXPERTO INVITADO DR. MICHAL MÁRIÁSSY DEL INSTITUTO DE METROLOGÍA ESLOVACO.
 
El objetivo del Dr. Máriássy no sólo fue aportar conocimientos y experiencia sino también ayudar a la formación del personal que inicia su desarrollo en el área de la metrología aplicada en el campo de la electroquímica, e intercambiar experiencias con el personal experto del Área de Metrología de Materiales, con la finalidad de mejorar los métodos de medición en el campo de electroquímica.
Durante la semana del 26 al 30 de julio del presente, el CENAM recibió la visita del experto Dr. Michal Máriássy proveniente del Instituto de Metrología de Eslovaquia (SMU por sus siglas en eslovaco), actualmente es el presidente del Grupo de Trabajo de Análisis Electroquímico del Comité Consultivo de Cantidad de Sustancia - Metrología en Química (CCQM); quien, como experto en electroquímica, aportó su experiencia y conocimientos en las discusiones realizadas con los expertos de electroquímica del Área de  Metrología de Materiales del    video institucional
Foto: CENAM
Al centro el Dr. Michal Máriássy, experto en el campo de la electroquímica, invitado del Instituto de Metrología de Eslovaquia.
CENAM, para el mejoramiento del Sistema Primario de Titulación Coulombimétrica a Corriente Constante, el Sistema de Referencia de Titulación Gravimétrica con Detección Potenciométrica del punto final que se encuentran ubicados en los laboratorios de la División de Metrología de Materiales, así como también al Sistema primario de pH y Conductividad de la División de Metrología de Materiales Orgánicos.

El Dr. Máriássy cuenta con amplia experiencia en el campo de la electroquímica y se ha declarado como un colega colaborador para el mejoramiento de la metrología química de México. El objetivo del Dr. Máriássy con su visita no sólo fue el aportar conocimientos y experiencia sino también ayudar a la formación del personal que inicia su desarrollo en el área de la metrología aplicada en el campo de la electroquímica, así como intercambiar experiencias con el personal experto del Área de Metrología de Materiales, con la finalidad de mejorar los métodos de medición en el campo de electroquímica, enfocándose también en la revisión del desarrollo de los modelos matemáticos utilizados en dichas metodologías analíticas empleadas para la certificación de materiales de referencia de acidez, medición de pureza de sales de cloruro de sodio, biftalato de potasio, sal etilendiaminotetra-acetato di-sódico (EDTA) y cianuros que se utilizan como calibrantes en los métodos clásicos de análisis. Actualmente en la normatividad mexicana relacionada con mediciones químicas se han identificado 29 MRC de sales de alta pureza, estos materiales son de amplio uso para la medición de diversas magnitudes en diversas ramas industriales, alimentos, metalmecánica, etc., así como de los sectores salud y medio ambiente, entre otros.

La visita del Dr. Máriássy no sólo reafirma el compromiso de CENAM de estar a la vanguardia y seguir avanzando en el mejoramiento de sus capacidades de medición, sino también del desarrollo de la metrología química con el uso de metodologías clásicas en México.
 
   
Más información:
Bibiana García, Griselda Rivera, Francisco Matehuala, Francisco Segoviano,
José Luis Ortíz, María del Rocío Arvizu y Judith Velina Lara
División Metrología de Metales
vlara@cenam.mx
marvizu@cenam.mx
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Última actualización el Jueves, 28 de Septiembre de 2010 11h48