En este número:                                                                                            Octubre, 2013





QUERÉTARO, SEDE DE LA ASAMBLEA GENERAL DEL SISTEMA INTERAMERICANO DE METROLOGÍA. 
 
Del 06 al 12 de octubre, correspondió al CENAM la organización de la Asamblea General del SIM, llevada a cabo en la Ciudad de Querétaro.
 
El Sistema Interamericano de Metrología, SIM fue resultado de un amplio acuerdo entre organizaciones de metrología. Es un órgano principal, compuesto por un representante oficial de cada uno de los Institutos Nacionales de Metrología de las treinta y cuatro naciones miembros de la Organización de los Estados Americanos, OEA.

El SIM es el resultado de la unión de cinco bloques económicos existentes en la región con sus respectivas redes y acuerdos metrológicos: NORAMET, CARIMET, CAMET, ANDIMET y SURAMET. Creado para promover la cooperación, apoyar y coordinar la integración de los sistemas de infraestructura de medición, en particular la interamericana y regional fiables en las Américas, mejorando el comercio regional y mundial, cuya visión es ser una organización regional de metrología representativa, transparente e integrada, comprometida a asegurar la uniformidad y ampliar la confianza internacional existente en las actividades de medición en el hemisferio occidental. 

La Asamblea General constituye un foro normativo donde los delegados se reúnen para discutir temas concernientes a la metrología.

Nos visitaron representantes de Antigua Barbuda, Argentina, Bahamas, Barbados, Brasil, Bolivia, Belice, Canadá, Colombia, Costa Rica, Cube, república Dominicana, Dominica, Ecuador, El Salvador, Guatemala, Guyana, Haití, Honduras, Jamaica, México, Nicaragua, Panamá, Paraguay, Perú, Santa Lucía, Trinidad y Tobago, Uruguay y Venezuela.
      sim
Logotipo utilizado para la difusión del evento.


inauguración
Inauguración de la Asamblea General de SIM.


participación
Participación del Dr. Héctor O. Nava J., Director General del CENAM.
 
Este año correspondió a Querétaro ser sede de esta importante Asamblea, a la que acudieron 
taller   reunion
invitados especiales de otras regiones metrológicas para discutir temas sobre intercomparaciones, acreditación, normatividad, etc. Dentro de las reuniones se incluyeron el SIM - CMWG Meeting; SIM Quality System Task Force Meeting; "De Acuerdo" Magazine Technical Committee Meeting; SIM Technical Committee / Professional Development Committee Meeting; CARIMET Meeting; Technical Implementation Group Metrology Meeting, Caribbean Countries; Workshop on the Supplement 1 to the GUM and Bayesian Statistics: Their Applications to Measurements in Mass and Related Quantities and SIM MWG7 Meeting; Workshop for SIM/TC members; Joint Activity on ISO 17025 for SIM TC Chairs; y Joint Activity on ISO 17025 for SIM TC and QMS WG. Adicionalmente, en el marco del evento, se llevaron a cabo dos talleres: “Ensayos de Aptitud”, por el CENAM y "Energías Renovables y Cambio Climático: desafíos, metrología y tecnología en las Américas", por el NIST; Cuyo objetivo fue promover los lineamientos y técnicas estadísticas en ensayos de aptitud y el tratamiento de energía renovable y cambio climático mediante la innovación y aplicación metrológica para tal fin respectivamente. Se contó con una exhibición de los más recientes aparatos, equipos y servicios de medición, con la participación de empresas con reconocimiento aplicado, centros de investigación, institutos y editoriales en el medio de la Metrología, así como la participación del stand del CENAM, mostrando los servicios de calibración, ensayos de aptitud, venta de materiales de referencia, asesorías, capacitación, estadías, venta de publicaciones técnicas, Verificación de dispensarios de combustibles, entre otros. 
 
 
Patrocinadores del SIM GA  


Más Información:

María del Socorro Cervantes
 Velázquez
mcervant@cenam.mx
  



   
CURSO-TALLER SOBRE PRODUCCIÓN Y CERTIFICACIÓN DE MATERIALES DE REFERENCIA  
 
Dentro del marco del proyecto de cooperación técnica regional de la comunidad andina y la Unión Europea “Fomento Coordinado de la Infraestructura de la Calidad en la Región Andina”, el PTB encargó al CENAM, llevar a cabo el Curso-Taller para expertos en producción y certificación de materiales de referencia (ISO Guide 34: 2009). El Curso –Taller fue realizado del 30 de septiembre al 4 de octubre de 2013.

Se contó con la participación de 8 técnicos expertos en metrología en química provenientes de 4 diferentes institutos de metrología de la región andina: Instituto Nacional de Metrología (INM), Colombia; Instituto Nacional de Defensa de la Competencia y de la Protección de la Propiedad Intelectual (INDECOPI), Perú; Instituto Ecuatoriano de Normalización (INEN), Ecuador; e Instituto Boliviano de Metrología (IBMETRO), Bolivia. Además, participaron 3 técnicos expertos de las siguientes organizaciones: Laboratorio Tecnológico de Uruguay (LATU), Uruguay; Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Paraguay; y Expogranel, Guatemala.
 
Tanto el conocimiento como las habilidades adquiridas en esta etapa, les permitirá identificar los requisitos necesarios para formular la producción de materiales de referencia (calibrantes) y aplicarlos en sus instituciones, que fungirán como productoras de materiales de referencia en cada uno de sus países. Estas organizaciones de metrología, podrán ir desarrollando en las etapas posteriores del proyecto, sus capacidades para demostrar su competencia técnica, así como su infraestructura para la producción de materiales de referencia.  
Los temas abordados en este curso-taller fueron la preparación gravimétrica de materiales de referencia, su caracterización y certificación por métodos analíticos; estudios de homogeneidad y evaluación de la estabilidad; evaluación de la incertidumbre en la medición del material de referencia empleando técnicas analíticas instrumentales; y la descripción protocolizada de la organización de un ensayo de aptitud. El curso contó con dos ejercicios de preparación de disoluciones acuosas; uno para análisis orgánico y otro para inorgánico. Como parte de la evaluación de necesidades en la producción y certificación de materiales de referencia se hizo un balance de Infraestructura de los laboratorios nacionales de los países Andinos.   
 
La revisión temática fue efectuada bajo un marco de gestión de calidad para reforzar las bases de cada Instituto, como ejemplo, para la implantación del SGC del productor de materiales de referencia en cada instituto.  
La participación en este Curso-Taller de los expertos de estas organizaciones metrológicas, junto con la práctica realizada y las experiencias transmitidas por los siete expertos del Área de Metrología de Materiales; la asistencia por parte de un experto en estadística y un experto en metodología didáctica; coordinados por el M. en C. Alejandro Pérez Castorena, les permitirá a los asistentes manejar, identificar y aplicar las etapas que constituyen el proceso de producción y certificación de un material de referencia. 
 
Más información:

Alejandro Pérez Castorena
 aperez@cenam.mx 
Yoshito Mitani Nakanishi
 ymitani@cenam.mx
 Dirección General de Metrología de Materiales  




LA DIRECCIÓN DE MATERIALES DE REFERENCIA PONE EN OPERACIÓN EL ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE REFLEXIÓN TOTAL (TXRF)

 
Ante la evolución de los materiales tecnológicos y los nuevos retos ambientales se requiere incrementar la capacidad de las mediciones analíticas de materiales mucho más diversos, sobretodo en el Centro Nacional de Metrología CENAM, cuyo objetivo es proveer a la industria de referencias confiables. Actualmente en el CENAM se cuenta con un espectrómetro de fluorescencia de rayos X que ha permitido el análisis y certificación de diversos tipos de materiales, sin embargo su límite de detección no permite el análisis de elementos a nivel traza, es decir, se considera menor a 100 partes por millón o metrológicamente hablando de 100 mg/kg . Es por esto que era necesaria la adquisición de un espectrómetro de fluorescencia de reflexión total (TXRF). Este equipo permitirá hacer el análisis a nivel traza (mg/kg y µg/kg) en una amplia variedad de matrices, que abarcan desde el análisis de elementos en sangre, en partículas provenientes del aire ambiente, especies biológicas, productos farmacéuticos, nanocompuestos, en el campo de la geoquímica o química forense, incluyendo materiales nucleares. 

Adicionalmente se puede mencionar que compite en exactitud contra otras técnicas espectrométricas de amplio reconocimiento como ICP-OES (Espectrometría de emisión óptica con plasma acoplado).

  equipo
EquipoTXRF modelo TX 2000.
equipo
EquipoTXRF modelo TX 2000.
  El arreglo geométrico entre la incidencia de rayos X y la detección de la información generada por la muestra, permiten despreciar los efectos de matriz. Adicionalmente la calibración a través del método de estándar interno facilita la cuantificación. El espectrómetro TX 2000 fue elegido debido a que es el instrumento de reflexión total más completo en el mercado, tiene un tubo de rayos X con dos ánodos, lo que permite cuatro radiaciones, MoKα, WLα, WLβ y la radiación del espectro blanco de W. Cuenta con un sistema óptico con goniómetro y un monocromador de alta resolución controlado por 2 micro motores de posición, que permiten micro pasos y una alta precisión y el aumento de sensibilidad en la señal. En el sistema de detección de rayos X se cuenta con un detector SDD (Silicon Drift Detector) con un área activa de 30 mm2, un preamplificador de pulsos con re- establecimiento.

Durante la puesta en marcha, una de las primeras muestras analizadas fue el perfil elemental de sangre de un donador. El tamaño de muestra tomado fue de 9.4 µg.  


La técnica ha sido utilizada en aspectos de restauración de obras de arte debido a la mínima cantidad de muestra requerida y su capacidad de medición directa por lo que se han podido tomar muestras de pintura de obras de arte antiguas para establecer la naturaleza de los pigmentos y proceder a su restauración. Esta adquisición amplía el abanico de posibilidades de desarrollo en servicios de análisis de alta confiabilidad y certificación de materiales de referencia, lo que también da la oportunidad de realizar nuevas mediciones en matrices en las que antes la Dirección de Materiales de Referencia de ésta Entidad no había incursionado.  









  la anunciación
La Anunciación, de Van den Heuvel, pintura de la Saint Nicholas Church, Ghent.
      


Más información:
 
Edith Zapata Campos
mzapata@cenam.mx
José Antonio Salas
jsalas@cenam.mx
Esther Castro Galván
ecastro@cenam.mx
Dirección de Materiales de Referencia
     
NACMA LLEVÓ A CABO SU CONFERENCIA Y TALLER ANUAL DE METROLOGÍA DE COORDENADAS EN EL NIST  
 
NACMA, organiza esta conferencia para difundir las normas, buenas prácticas y difundir el estado del arte en esta área de la metrología 
nacma
Imagen tomada del hipervínculo oficial http://www.nacma.info/
La Asociación de Metrología de Coordenadas de Norteamérica, por sus siglas en inglés NACMA, es una Asociación que organiza esta conferencia alternándola entre los tres países de norteamérica Estados Unidos, Canadá y México. En está ocasión correspondió a los Estados Unidos organizarla y lo hicieron precisamente en el National Institute of Standards and Technology (NIST), el instituto homólogo al CENAM de los Estados Unidos. Va dirigido a ingenieros de calidad, de producción, diseñadores mecánicos, proveedores de equipos de medición por coordenadas, equipos de medición por visión, y gestión de la metrología, con el fin de apoyar y fortalecer las buenas prácticas, difundir la normalización al respecto y presentar las nuevas tecnologías a la industria.

NACMA organiza esta conferencia invitando a expertos de talla mundial en temas como la incertidumbre de medición, la validación de software en CMM y Tolerancias Geométricas y Dimensionales (GD&TA). A la fecha esta conferencia itinerante se ha llevado a cabo en las instalaciones de fabricantes de autopartes, industrias biomédicas, universidades y en institutos nacionales de metrología como el CENAM.

En esta ocasión, del 27 al 30 de agosto, correspondió al NIST en la ciudad de Gaithersburg, Maryland, Estados Unidos de Norteamérica ser sede de la VII Reunión NACMA donde se reunieron asociados y participantes quienes compartieron experiencias sobre la temática.

Los temas que se desarrollaron durante estas sesiones de conferencias fueron: Importancia de la metrología de coordenadas en la industria manufacturera, Máquinas de Medición por Coordenadas de Brazo Articulado (AACMMs), Laser Tracker: conocer las fuentes de errores y mejoramiento en su exactitud: efectos térmicos en CMM y piezas de trabajo, Evaluación de palpadores de CMM, cabezales de palpador y puntas, conceptos de software en CMMs y prueba de escaneo con triangulación de palpadores.

Los expertos que participaron en las conferencias se encontraban Dean Beutel, Director de Caterpillar Production System–Americas, Dr. Steven Philips del NIST, Dr. Greg Hetland, International Institute of Geometric Dimensioning and Tolerancing, Dr. Jim Pekelsky, Canadian Dimensional Metrology, Dr. Ed Morse, Universidad de North Carolina en Charlotte (UNCC), Keith Summers, Productivity Quality Inc., por mencionar algunos. Entre los asistentes a este evento por parte de México, se logró identificar a representantes de la empresa Soporte CMM de la ciudad de Puebla; también se presentaron patrocinadores del evento como Creaform, Faro, Hexagon, API, Renishaw, entre otros; por parte del CENAM asistieron los M. en C. Edgar Arizmendi y Octavio Icasio así como el Dr. Miguel Viliesid, todos involucrados en el área de Maquina de Medición por Coordenadas.  
Dentro de las actividades que realizaron los participantes del CENAM fueron las visitas guiadas a los laboratorios de instrumentos de medición especializados en coordenadas y de laser tracker en el NIST.

Como resultado de esta visita, se obtuvieron conocimientos importantes para abordar problemas de calibración y medición en metrología de coordenadas, así como el conocimiento del estado del arte en métodos de medición por principios ópticos.

Para mayor información de este evento, visitar la página: http://www.nacma.info  


  participantes
Foto: CENAM
Vista de participantes a laboratorios en el NIST.
Más información:
 
Miguel Viliesid Alonso
 mviliesi@cenam.mx 
Edgar Arismendi
 earizmen@cenam.mx 
Octavio Icasio Hernández
 oicasio@cenam.mx
 Dirección de Metrología Dimensional  




   
EXPOCYTEQ 2013, UN ENCUENTRO CON LA CIENCIA Y LA TECNOLOGÍA 
 
Como cada año, el Consejo de Ciencia y tecnología del estado de Querétaro, CONCYTEQ, organiza eventos y actividades con objeto de divulgar la ciencia, la tecnología e innovación en el Estado de Querétaro, esta ocasión, en su 27ª edición. 
expocyteq
Como en todas las actividades en las que interviene el hombre, podemos decir, que esta actividad no sería posible sin su participación, pues gracias a sus capacidades de investigación en ciencia, tecnología e innovación se ha logrado la destacada participación de personal profesional de alto nivel.  
Con esta idea, CONCYTEQ convocó a las instituciones de educación superior y de investigación publicas y privadas para conjuntar esfuerzos en pro de la difusión y divulgación, con el objetivo principal de dar a conocer el que hacer científico, tecnológico y de innovación de las mismas a través de charlas y talleres en escuelas primarias y secundarias del municipio de Querétaro en la semana del 23 al 27 de septiembre y, en el caso de la EXPOCYTEQ abierta al público en general a partir del 01 al 05 de octubre.
Las instituciones que participaron activamente en la tarea de divulgación se encuentran: Universidad Tecnológica de San Juan del Río (UTSJR), Instituto Nacional de Estadística Geografía e Informática (INEGI),Universidad Politécnica de San Juan del Río (UPSJR), Centro Nacional de Investigación Disciplinaria y Mejoramiento Animal (CENIDMA-INIFAP), Instituto de Neurobiología,
      stand

Stand del CENAM después de la inauguración de la EXPOCYTEQ.
     
UNAM-Campus Juriquilla (INB), Centro de Física Aplicada y tecnología Avanzada, UNAM-Campus Juriquilla (CFATA), Universidad Tecnológica de Querétaro (UTEQ), Universidad Politécnicas de Querétaro, (UPQ), Universidad Autónoma de Querétaro (UAQ), el Centro Nacional de Metrología (CENAM), entre otras; con temas destacados y de gran interés como: “Aplicaciones de energías alternativas”, “Conociendo México”, Formación de un organismo vivo”, “El arco iris sobre tu mesa”, “Flora y Fauna silvestre de Querétaro”, “El hígado y sus padecimientos”, “¿Cómo saber la hora con la ayuda del sol?”, “Impactos científicos de la química”, “Física y química en aplicaciones biomédicas”, “Imágenes luminosas”, “Cómo hacer un libro con realidad aumentada”, por mencionar algunas.
En el caso particular del CENAM, se contó con la destacada participación de investigadores con las charlas en escuelas primarias de la ciudad de Querétaro y municipios cercanos, denominadas: “El ambiente sonoro en que vivimos”, por Ing. Noé Razo Razo, en la que se abordó la importancia del ruido y el audio en la vida cotidiana; “¿Qué dijo?, cómo medimos el habla y el audio”, por Dr. Andrés Pérez Matzumoto, en ésta se analizó la importancia de saber comunicarnos oralmente y cómo evaluar; “La estadística en la vida cotidiana”, por Dr. Vicente González Juárez, a través de ésta demostró la importancia de la observación en estadística para entender nuestro entorno y; “Microscopía: de lo que tus ojos ni cuenta se dan”, por M. en C. J. Antonio Salaz Téllez, describió los componentes de un microscopio para observar objetos que somos incapaces de ver a simple vista.
Dentro del programa de actividades para preparatoria en los municipios de Querétaro del 30 de octubre al 15 de
  grupo de alumnos
Grupo de alumnos de primaria, atentos a la explicación de la Escala Internacional de Temperatura.
noviembre de 2013 se contará con la charla titulada: “¿Importa el tamaño? Mediciones en la nanoescala”, por el Dr. Raúl Herrera Basurto.
No cabe duda, de la gran importancia que reviste este evento para el Municipio de Querétaro, en el que año tras año las instituciones comprometidas con la sociedad dan fe de su existencia mostrando los avances, producto de su trabajo. 

Más información:

María del Socorro Cervantes
Velázquez mcervant@cenam.mx 
Vicente González Juárez
 vgonzale@cenam.mx
 Dirección de Enlace, Información y Documentación