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I |
II |
III |
IV |
V |
VI |
VII |
VIII |
IX |
X |
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Servicio de Calibración o Medición |
Alcance o punto de medición
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Condiciones de Medicion |
IncertidumbreExpandida |
Patrón de referencia usado en la calibración |
Lista de Comparaciones soportando esta medición |
Relación con el Apéndice C del MRA del CIPM |
¿Respaldado por CMC)?
(Sí / No) |
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Magnitud
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Tipo de instrumento
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Método de medición
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Parámetro |
Especificaciones |
Valor |
Unidades |
Contribución del laboratorio |
Contribución del IBC |
Factor de cobertura |
¿Inc. relativa o absoluta? |
Matriz de incertidumbre |
Patrón |
Fuente de trazabilidad |
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Longitud
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Bloques patrón por interferometría Hasta 9 piezas.
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Interferometría absoluta
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0-100 mm
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Temperatura
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(20 ± 0,3)°C
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Q[19;0,45L] L en mm. Intervalo de valores de 19 a 49 nm
|
nm
|
Q[19;0,11L]
|
Q[3;0,44L]
|
2
|
absoluta
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|
Dos laseres estabilizados en frecuencia de 633nm (rojo) y 543nm (verde)
|
Patrón Nacional de Medición de Longitud PNM-02
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CCL- K1 (1998 - 1999)
|
SIM-L-MX-00000AVL-2
|
Sí
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Longitud
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Bloques patrón por interferometría Hasta 9 piezas.
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Interferometría absoluta
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0-100 mm
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Temperatura
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(20 ± 0,3)°C
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Q[19;0,45L] L en mm. Intervalo de valores de 19 a 49 nm
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nm
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Q[19;0,11L]
|
Q[3;0,44L]
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2
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absoluta
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Dos laseres estabilizados en frecuencia de 633nm (rojo) y 543nm (verde)
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Patrón Nacional de Medición de Longitud PNM-02
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CCL- K1 (1998 - 1999)
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SIM-L-MX-00000AVL-2
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Sí
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