Programa


IX Tri-National Conference of the North American Coordinate Metrology Association

Martes 10 de Noviembre
18:00 - 20:00    Registro 


Miércoles 11 de Noviembre 
8:00 – 9:00 Registro
9:00 – 9:05 Presentación del panel de honor
9:05 – 9:15 Bienvenida / Presentación del evento / Inauguración
 Fecha/Hora  Sesión Presentador Título de la presentación
Sesión S1
9:15 – 10:15 S1.1 Dr. Steven PHILLIPS1 & Dr. Kim SUMMERHAYS2
1 CMM Program Manager, National Institute of Standards and Technology (NIST), USA
2 MetroSage, USA
Measurement Sampling Strategies
10:15 – 10:45 S1.2 Ing. Ramón ZELENY,
Instituto de Metrología Mitutoyo, MITUTOYO Mexicana
Tolerancias Dimensionales y Geométricas (GD&T) – Especificaciones Geométricas de Producto (GPS) y Máquinas de Medición por Coordenadas (CMM)
10:45 – 11:00 SP-1 CARL ZEISS de México
11:00 – 11:30 Visita a exhibición
11:30 – 12:30 S1.3 Dr. Alessandro BALSAMO
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRIM), Italia
Uncertainty of measurement of calibrated test length realized by interferometry in ISO 10360-2 testing
12:30 – 13:00 S1.4 Ing. Maximino CRUZ A.
Carl ZEISS de México.
Evaluación de CMM con cinco líneas de prueba
13:00 – 13:15 SP-2 CIDESI
13:15 – 14:30 COMIDA
Sesión S2
14:30–15:30 S2.1 Dr. Eugen TRAPET
Ingeniería y Servicios de Metrología Tridimensional, Gijón, España; Trapet Precision Engineering.
Interlaboratory Comparison for geometric error compensation Parameter measurement
15:30 – 16:00 S2.2 Dr. Joel BARBOSA
Centro de Investigación en Ciencia Aplicada y Tecnología Avanzada (CICATA-IPN)
Sistemas catadióptricos para reconstrucción y medición de geometrías internas
16:00 – 16:15 SP-3 MITUTOYO Mexicana
16:15 – 16:30 Visita a exhibición
16:30 – 17:15 S2.3 Dr. Otto JUSKO1, H.REIMANN1 & R. BERNHARDT2
1
Physikalisch-Technische Bundesanastalt (PTB), Alem.
2Carl ZEISS INT GmbH, Alem.
Investigations on high precision CMM form scanning
17:15 – 17:45 S2.4 Julián C. ÁNGELES C.1 & M. en C. Octavio Icasio H.2
1Instituto Tecnológico de Qro.
2CENAM
Construcción de un dispositivo óptico de medición en 3D de mano
       
19:45 - 22:00   CENA DEL EVENTO
En honor a nuestros distinguidos conferencistas
 


Jueves 12 de Noviembre 
 Fecha/Hora  Sesión  Presentador  Título de la presentación
Sesión S3
8:45 – 9:45 S3.1 Ing. Jon Koepl,
Nikon Metroloy, USA / Ingeniería Midexacto, México
Laser Radar non-contact automated inspection
9:45 – 10:15 S3.2 Dr. José SÁNCHEZ VIZCAÍNO
Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico (CECADET), UNAM, México
Análisis de geometrías de mediciones por coordenadas en la industria automotriz
10:15 – 10:30 SP-4 HEXAGON Metrology
10:30 – 11:00   Visita a exhibición
11:00 – 12:00 S3.3 Dr. Alessandro BALSAMO
INRIM, Italia.
Principles of achieving metrological traceability with CMM
12:00 – 12:30 S3.4 M. en C. Edgar ARIZMENDI & Dr. Miguel Viliesid
CENAM, México
Resultados de Ensayo de Aptitud de Medición de Piezas con CMM
12:30 – 13:00 S3.5 Dr. David GALE1, , M. en C. Edgar Arizmendi2 y M. en C. Octavio Icasio2
1INAOE, México
2CENAM, México
Validación de medición de los paneles del Gran Telescopio Milimétrico
13:00 – 13:15 SP-5 KEYENCE México
13:15 – 14:30   COMIDA
Sesión S4
13:30 - 15:30 S4.1 Dr. Eugen TRAPET
ISM3D / TPE, España.
Traceability for calibrations of dimensional reference objects with CMM
15:30 – 16:00 S4.2 Ing. Héctor AGUILAR
Soporte Metrology, México
Consideraciones prácticas para la calibración de una CMM de brazo articulado de acuerdo a ASME B89.4.22
16:00 – 16:15 SP-6 Grupo MESS
16:15 - 16:45 Visita a exhibición
16:45 - 17:15 Panel de discusión
17:15 – 17:45   Conclusiones, Clausura del evento