Concluye exitosamente el Simposio de Metrología 2014

“XX Aniversario en Beneficio de la Nación”, lema de la edición de este Simposio, oportunidad que se aprovechó para conmemorar el establecimiento del CENAM para el fortalecimiento del sistema nacional de mediciones, desde sus cimientos hasta sus aplicaciones. Efectuado del 6 al 10 de octubre de 2014, en la ciudad de Santiago de Querétaro, México.
     presentacion
Logotipo utilizado para difundir el SM2014
México, enfrenta un gran reto tecnológico, pues hace necesario que la industria realice nuevas aplicaciones a las mediciones como son las nano y biotecnologías, la investigación científica, metrología legal, la normalización y la trazabilidad de la incertidumbre en las mediciones. En este evento se reunieron miembros de la comunidad científica, de laboratorios nacionales de metrología de diversos países, de laboratorios de calibración y ensayos, la industria en general, centros de investigación y académicos, para presentar sus avances y logros en materia de métodos e instrumentos de medición, patrones y materiales de referencia, estadística aplicadas a las mediciones, entre otros.
Para discutir estos temas, el CENAM organiza bianualmente el Simposio de Metrología, oportunidad que la comunidad interesada aprovecha para presenciar y/o presentar ponencias de alto contenido técnico impartidas por personal del mayor reconocimiento técnico-científico en el campo de las mediciones, así como para difundir el quehacer técnico científico que se realiza en el país. Los días 6 y 7 de octubre, previos a la realización del Simposio se llevó a cabo el Encuentro Nacional de Metrología en el que se dictaron charlas en temas de salud e industrial, destacando en salud temas orientados a la instrumentación médica y de diagnóstico, control de calidad, e ingeniería biomédica; para el sector industrial, temas destacados en Energía Eléctrica, Gestión de Calidad, Acreditación, Calibración y Ensayos de Aptitud. Se ofrecieron 14 cursos con duración de un día, en los cuales se tuvo una asistencia de 178 personas prevenientes de laboratorios secundarios, la industria y universidades del país y del extranjero  
  presentación inauguración Inauguración del Simposio de Metrología 2014 Director del CENAM Cursos cortos ofrecidos en el marco de la semana del SM2014.
Exhibición de posters.
Inauguración del Encuentro Nacional de Metrología

Exhibición de equipo y servicios de medición.
Exhibición de posters.
Exhibición de equipo y servicios de medición
Exhibición de equipo y servicios de medición. Brindis en conmemoración del 20 Aniversario del CENAM
Brindis en conmemoración del 20 Aniversario del CENAM.
El Simposio de Metrología se llevó a cabo del 8 al 10 de octubre del presente con el tema “20 Aniversario del CENAM en Beneficio de la Nación”, cumpliendo así su objetivo principal de difundir el conocimiento y desarrollo metrológico. Asistieron personas de los sectores científico, tecnológico, industrial, empresarial, medio ambiente, salud, académico, normativo y gubernamental, entre otros. El evento contó con la entusiasta participación de destacados expertos en conferencias plenarias, se contó con la asistencia aproximada de 499 personas representando así un incremento del 12% al 2012, la asistencia se derivó de autores, asistentes profesionales, técnicos, estudiantes y personal científico-técnico del CENAM.

Cabe destacar que se contó con la agradable presencia de participantes provenientes de Alemania, Argentina, Canadá, Chile, Colombia, Costa Rica, Ecuador, España, Estados Unidos de Norte América, Perú, Reino Unido, Uruguay y Venezuela.
El programa incluyó 9 interesantes Conferencias Plenarias magistralmente presentadas por personalidades de reconocido prestigio internacional de los Institutos Nacionales de Metrología más importantes del mundo, 111 trabajos técnicos, de los cuales 71 se presentaron en forma oral y 41 en cartel, en las especialidades de Mediciones Electromagnéticas, Tiempo y Frecuencia, Temperatura y Humedad, Óptica, Radiaciones Ionizantes, Viscosidad y Reología, Química, Educación Metrológica y Normalización entre otros.  

Para la revisión de los trabajos recibidos, se contó con la participación de un claustro arbitral constituido por 137 especialistas en sus respectivas áreas de la metrología, los cuales estuvieron conformados por 28 árbitros extranjeros, 51 de Instituciones nacionales y 58 del CENAM.

La realización de este evento fue gracias a la generosa participación de 36 patrocinadores, contando con la valiosa promoción de CONACYT, CONCYTEQ y la Secretaria de Turismo del Estado de Querétaro; a los directivos por la confianza brindada, al personal de apoyo y al comité organizador del CENAM, compuesto por más de 40 personas, quienes con su entrega hicieron posible la realización del Simposio. En cada edición, el Simposio de Metrología ha captado cada vez más el interés de todos aquellos profesionales involucrados con las mediciones, incluyendo investigadores y estudiantes, para contribuir con sus trabajos y experiencias a este importante campo de la ciencia y la tecnología, acentuando así el interés de ampliar el conocimiento pleno de la innovación y desarrollo de las mediciones en México.
Este evento se ha convertido en el país en uno de los principales foros tecnológicos y de difusión del conocimiento en su género a nivel internacional destacando la participación de diferentes Institutos Nacionales de Metrología del mundo.




Más información:
M. en C. Luis Omar Becerra Santiago
lbecerra@cenam.mx
 Coordinador General del Simposio de Metrología 2014