Introducción:

En 2007, el Institute for National Measurement Standards (INMS) del National Research Council de Canada promovió el primer Tri-national Workshop on Standards for Nanotechnologies como un foro para intercambiar experiencias sobre nanotecnologías entre las organizaciones relacionadas con el desarrollo de normas y patrones de medida, la industria e instituciones de investigación y desarrollo en el campo, como cooperación entre los Institutos Nacionales de Metrología (INM) de Canada, Estados Unidos de América y México.
En esa ocasión fueron invitados entre otros el US National Institute of Standards and Technology (NIST) y el Centro Nacional de Metrología (CENAM), México.   Dados los resultados positivos de ese primer Workshop, al año siguiente el NIST organizó el segundo en cuyo programa se incluyó el tema de normas. Como continuación, el CENAM será el anfitrión del 3er. Workshop en 2009, en el cual se contará con presentaciones y discusiones sobre el estado y retos de las nanotecnologías, en lo concerniente a normas y patrones de medida.