RESUMEN
Los días 25 al 27 de octubre de 2004 se celebró en la ciudad de Santiago de Querétaro el Simposio de Metrología 2004 organizado por el Centro Nacional de Metrología. A nombre del Lic. Fernando Canales Clariond, Secretario de Economía, la declaratoria inaugural del evento fue realizada por el Lic. Carlos Arce Macías, Procurador de la PROFECO.
Importantes personalidades de la comunidad metrológica internacional participaron en el Simposio: Dr. Héctor Nava Jaimes, Director del Centro Nacional de Metrología, Dr. Arden Bement, Director del National Institute of Standards and Technology de los Estados Unidos de Norteamérica, Prof. Dr. Michael Kuehne, Miembro del Consejo Presidencial del Physikalisch Technische Bundesanstalt de Alemania, Dr. Akira Ono, Ex Director del Instituto Nacional de Metrología de Japón y actual Responsable de Metrología del National Institute of Advanced Industrial Science and Technology del Japón, Dr. Robert Kaarls, Secretario Ejecutivo del Comité Internacional de Pesas y Medidas y Prof. Maurice Cox del National Physical Laboratory del Reino Unido.
El programa técnico consistió de 4 conferencias plenarias, 4 conferencias semi-plenarias, 3 paneles de discusión, 51 conferencias paralelas y 39 en forma de pósters técnicos. Los conferencistas proceden de Laboratorios Nacionales de Metrología, de Centros de Investigación y Educación Superior, de Laboratorios Secundarios de calibración, y en menor medida de la industria. Los principales temas abordados fueron: desarrollo de sistemas de medición primarios, estimación de incertidumbre de medición, sistemas de calidad basados en la norma ISO 17025, entre otros.
A este importante evento asistieron 325 personas, incluidos representantes de países como: Estados Unidos de Norteamérica, Brasil, Alemania, Reino Unido, Japón, Venezuela, Costa Rica, Cuba, Holanda y Argentina.
Los fabricantes de instrumentos de medición tuvieron también una importante participación al promover entre los asistentes las nuevas tecnologías de medición en las más diversas disciplinas de la metrología. Entre los patrocinadores del Simposio de Metrología 2004 destacan: Agilent Technologies, Anton Paar, Básculas Revuelta Maza, Básculas y Automatizaciones, CIP, Carl Zeiss de México, CIDESI, Electrónica 2000, Emerson Process Management, ETS-Amplifier Research y ETS-Lindgren, FUJISAN SURVEY, INYMET, Insco de México, METAS, InTech, Metrotec, Mettler Toledo, Mexicana de Electrónica, MICRA Ingeniería, Mitutoyo Mexicana, National Instruments, Praxair, Sistemas de Medición y Control, SUPERVY Sistemas.
Las memorias aquí presentadas representan el fruto de muchas horas de trabajo de los autores, de los miembros del Comité Técnico, de los patrocinadores y de los integrantes del Comité de Organización. A todos los involucrados en este enorme esfuerzo va nuestro sincero agradecimiento.
Por el Comité de Organización:
Roberto Arias Romero.
