Presentación

Me es grato dirigirme a la comunidad metrológica nacional e internacional, para invitarlos a participar en la edición 2018 del Simposio de Metrología, que tradicionalmente realiza cada dos años el Centro Nacional de Metrología. Del 8 al 12 de octubre, teniendo como sede la ciudad de Santiago de Querétaro, una de las ciudades con mayor perspectiva de crecimiento en Latinoamérica, se desarrollarán como temas principales: Metrología Primaria, Metrología para la Innovación Tecnológica y Metrología para el Desarrollo Sustentable, con la premisa fundamental, de que sea un foro para el intercambio de experiencias entre los miembros de la comunidad metrológica. 

El año 2018 es de gran significado para la metrología en el mundo, ya que se estarían culminando los proyectos relacionados con la redefinición de las unidades del Sistema Internacional, mejor conocido como SI. Esto ha requerido la puesta en marcha del ingenio del hombre para desarrollar sistemas de medición que tengan una trascendencia constante en el tiempo y que puedan traspasar fronteras. 

En los días previos se ofrecerán cursos relacionados con el quehacer metrológico y, durante el evento, contaremos con la participación de conferencistas nacionales e internacionales de reconocido prestigio, expertos en el tema. Así también, contaremos con conferencias simultáneas, una exposición de carteles y la organización de actividades culturales y sociales. En la exposición industrial, tendremos a fabricantes de instrumentos de medición, exhibiendo lo más avanzado en tecnología de medición. Todo esto, con el objetivo de que nuestros participantes se sientan en un ambiente agradable y propicio para el enriquecimiento de ideas en todos los ámbitos de la metrología y sus aplicaciones, por lo cual son bienvenidas todas sus contribuciones, que permitan lograr, una vez más, un evento exitoso en todos los sentidos.

Los invitamos a formar parte del Simposio de Metrología 2018: “Impulso para la Innovación Tecnológica y el Desarrollo Sustentable” 

Con un franternal saludos,

Atentamente

M. en C. Froylán Martínez Suárez
Coordinador General del Simposio de Metrología 2018.