Presentación El Centro Nacional de Metrología organiza cada dos años el Simposio de Metrología como un foro para promover la comunicación y colaboración entre los miembros de la comunidad metrológica nacional e internacional. El Simposio de Metrología 2006 refleja la diversidad de esta comunidad que va desde investigadores de reconocido prestigio, hasta personal que se inicia en esta disciplina. Estas memorias reúnen 130 trabajos de diversas especialidades de la Metrología como resultado de un esfuerzo compartido entre autores, comité técnico y organizadores, constituyen una contribución de la comunidad metrológica nacional e internacional y en particular del CENAM al desarrollo, difusión y documentación de la ciencia de las mediciones. Expresamos nuestro más sincero reconocimiento a autores, árbitros y conferencistas invitados por compartir sus conocimientos, así como por el tiempo y el esfuerzo invertido en este evento. Nuestro reconocimiento también a los patrocinadores ya que con su apoyo ha sido posible organizar el Simposio a tarifas accesibles, y conocer los nuevos instrumentos y la oferta actual de servicios metrológicos. Cada uno de los artículos reunidos en este CD han pasado por un proceso de arbitraje que asegura que son conceptualmente correctos y son considerados de utilidad para la comunidad metrológica, sin embargo, la información contenida en los trabajos es responsabilidad exclusiva de sus autores. El Comité Organizador David Avilés Castro Felipe Hernández Márquez Marcela Sandoval Yañez Gabriela Alcérreca Guzmán Israel García Ruíz Eric Rosas Solís Maximiliano Benavides Salazar Salomón Aguilar Hernández Norma González Rojano Luis Omar Becerra Santiago Rosa Del Arenal Aguilar Fabiola Hernández Guerrero Gloria Tejas Villalón Eugenia García Fierro Carolina Medrano Salgado Daniel de la Torre Guzmán
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