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| Clave/ Temario | Modalidad | Inicia | Termina | Inversión por persona (precios en M.N. ) | Horas | Fecha límite de inscripción |
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Conceptos básicos de estadística, probabilidad y distribución normal para metrología
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Introducción a la metrología y a la estimación de incertidumbre de la medición
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Metrología en la aplicación de microscopia electrónica de barrido ambiental (herramienta de dispersión de rayos X)
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Norma mexicana NMX-EC-17025-IMNC-2018. Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración
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Metrología de espectroscopia de infrarrojo y Raman en la caracterización de materiales
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