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3er. TALLER TRINACIONAL SOBRE PATRONES DE MEDIDA Y NORMAS PARA LAS NANOTECNOLOGÍAS
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| Centro Nacional de Metrología (CENAM), Febrero 12, 2009. |
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Dirigido a:
- Institutos nacionales de metrología
- Industria
- Organizaciones públicas y privadas de investigación y desarrollo
- Agencias gubernamentales relacionadas con la nanotecnología
- Organismos de normalización en el tema
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